原文转载于赛默飞公众号： 赛默飞材料与结构分析中国
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2021年7月23日，赛默飞联合多家科研机构共同举办的“2021全国表面分析方法及新材料表征研讨会”于长春成功召开，会议邀请了众多国内外专家共同交流XPS、拉曼、电镜等分析手段在表面分析领域的最新研究进展及应用。
召开期间，赛默飞于大会现场正式发布了全新一代Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 X 射线光电子能谱仪。中科院长春应化所逯乐慧副所长、中山大学陈建教授、清华大学姚文清教授、中科院大连化物所盛世善研究员、中科院化学研究所刘芬研究员、赛默飞材料与结构分析业务高级商务总监陈厅行，共同参与了新品揭幕仪式，宣告Nexsa G2在中国的正式闪亮登场！
同时此次大会还进行了同步直播，线上的近600名观众同我们一起见证了Nexsa G2的中国区发布！
揭幕仪式后我们很荣幸的邀请到了赛默飞表面分析全球市场发展总监Richard G. White为大会进行新品介绍。Richard表示：当今表面和界面分析充满了挑战，需要一款仪器能够为后续的研发改进提供可靠的结果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面分析系统是一款高性能 X 射线光电子能谱仪，在保证数据质量和样品测试通量的同时，集成了其他分析技术。希望能够为中国科研及工业发展做出贡献！
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